薄膜电容的损耗 般分为介质损耗和金属损耗，介质损耗 般是介质漏电流和介质 化引起的损耗，金属损耗 般是 板与引脚的接触电阻，接触 板电阻，引脚电阻三部分构成要控制薄膜电阻的损耗，就要从上述因素控制，主要也取决与薄膜电容的制程工艺。
如果薄膜电 和喷下的金属层接触电阻太大，影响这个接触电阻的主要是①喷金的工艺和喷金材料的选择②耐压测试时使用直流电压会是这个接触电阻增大。想要控制损耗的这个问题，就需要从中找出根源问题去解决。希望看完本文的内容你有所答案！
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